[뉴스핌=김지나 기자] 인텍플러스는 7일 표면 형상 측정 시스템과 이를 이용한 측정방법에 관한 미국 특허권을 취득했다고 공시했다.
회사측은 "백색광 주사 간섭 원리를 이용하는 단일 장비에서 2차원과 3 차원 정보 획득을 모두 실시할 수 있다"고 설명했다.
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[뉴스핌 Newspim] 김지나 기자 (fresh@newspim.com)
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