[뉴스핌=함지현 기자] 로체시스템즈는 대기 중에서도 FPD용 글라스 패널의 픽셀 불량 여부를 검출할 수 있고 전극 선폭이 미세 피치화된 FPD용 글라스 패널의 픽셀 불량 여부를 무리 없이 검출할 수 있는 어레이 테스터 관련 특허권을 취득했다고 2일 공시했다.
아울러 비접촉식 어레이형 전극패턴 검사장치 관련 특허권도 취득했다고 밝혔다.
[뉴스핌 Newspim] 함지현 기자 (jihyun0313@newspim.com)
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아울러 비접촉식 어레이형 전극패턴 검사장치 관련 특허권도 취득했다고 밝혔다.
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