[뉴스핌=장순환 기자] 내쇼날인스트루먼트는 반도체 자동화 테스트에 특화된 PXI SMU 제품 라인을 출시한다고 20일 발표했다.
다중 핀 반도체 DUT의 병렬 테스트에 최적화된 새로운 NI PXIe-4143 SMU는 초당 6만개의 샘플과 4개 채널을 제공하며 (SMU 제품 중 최고의 채널 밀도), NI의 다채널 SMU 출력 범위를 150 mA에서 최대 24V까지 제공한다.
내쇼날인스트루먼트 반도체 테스트 담당 부사장인 론 울페는 "SMU 제품군에 NI PXIe-4143을 추가하면서 거의 모든 디바이스에 DC 측정 옵션을 제공할 수 있게 됐다"며 "NI PXIe-4143이 제공하는 업계 최고 수준의 채널 수, 샘플 속도 및 직접 로드 변화를 조절할 수 있는 SourceAdapt 기술을 통해 가장 유연한 반도체 측정 계측기를 구현할 수 있다"고 소감을 전했다.
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[뉴스핌 Newspim] 장순환 기자 (circlejang@newspim.co.kr)












